Thermo Scientific™

Sistema de pruebas TLP/VF-TLP de sobremesa flexible Celestron™

Número de catálogo: 10133210
Asistencia técnicaAsistencia al cliente
Sistema de pruebas TLP/VF-TLP de sobremesa flexible Celestron™
Thermo Scientific™

Sistema de pruebas TLP/VF-TLP de sobremesa flexible Celestron™

Número de catálogo: 10133210
Asistencia técnicaAsistencia al cliente
Diseñe y desarrolle productos semiconductores que toleren eventos de descarga electrostática (ESD) con un sistema de pruebas TLP/VF-TLP flexible. El Sistema de pruebas Thermo Scientific™ TLP/VF-TLP de sobremesa flexible Celestron™ proporciona una caracterización fiable de estructuras semiconductoras avanzadas en distintos estresores. El sistema se puede configurar para pulsos de línea de transmisión (TLP), pulsos de línea de transmisión muy rápidos (VF−TLP), ESD modelo de cuerpo humano, ESD modelo de máquina para las pruebas a nivel de obleas o de paquetes. También se pueden utilizar sondas opcionales para medir las señales de los pines o almohadillas que no se someten a estrés.
 
Número de catálogo
10133210
Formato
Each
Tipo de producto
Sistema de pruebas TLP/VF-TLP de sobremesa flexible
Precio (ARS)
Contáctenos ›
Especificaciones completas
Tipo de productoSistema de pruebas TLP/VF-TLP de sobremesa flexible
Tensión120/240 VCA
Test Voltage RangeUp to 2000 V
Certificaciones/conformidadPulsos de línea de transmisión (TLP): diseñado conforme al documento actualizado de prácticas estándar de la asociación ESD
Dimensiones (Largo x Ancho x Alto)23 x 22 x 24.5 in. (58.5 x 56 x 62.25 cm)
Hertz50/60 Hz
Rango de humedadDel 10 al 80 %, sin condensación
Detalles de las especificacionesOpciones:
Suministro de tensión polarizada de hasta ± 50 V y placas de fijación de prueba (DUT) de 2 A
Software de interfaz de sonda semiautomática
Líneas de carga personalizadas (anchura de pulsos): de 30 ns a 200 ns
Líneas de carga de VF-TLP: de 1,2 a 10 ns
Cables de TDR-S/retraso de tiempo personalizado: de 10 ns a 200 ns
Anchura de pulsos variable y tiempos de subida de 0,2 a 20 ns
Cambio de ordenadores entre 3 anchuras de pulso
Cambio de ordenadores entre 3 tiempos de subida
Agujas de sonda de obleas sólidas y coaxiales
Sondas de Kelvin para eliminar la resistencia de contacto de la oblea
Sondas de obleas de terreno adicionales (solo para TDR y TDT)
Sondas de obleas con puntas de distinto radio, tungsteno y cobre
Intervalo de temperaturaDe 5 a 44 °C (de 40 a 112 °F)
Peso (imperial)Peso del sistema patrón: 85 libras; peso con embalaje: 200 libras
Peso (métrico)Peso del sistema patrón: 38,6 kg; peso con embalaje: 91 kg
Unit SizeEach
Mostrando 1 de 1
Número de catálogoEspecificacionesFormatoTipo de productoPrecio (ARS)
10133210Especificaciones completas
EachSistema de pruebas TLP/VF-TLP de sobremesa flexibleContáctenos ›
Tipo de productoSistema de pruebas TLP/VF-TLP de sobremesa flexible
Tensión120/240 VCA
Test Voltage RangeUp to 2000 V
Certificaciones/conformidadPulsos de línea de transmisión (TLP): diseñado conforme al documento actualizado de prácticas estándar de la asociación ESD
Dimensiones (Largo x Ancho x Alto)23 x 22 x 24.5 in. (58.5 x 56 x 62.25 cm)
Hertz50/60 Hz
Rango de humedadDel 10 al 80 %, sin condensación
Detalles de las especificacionesOpciones:
Suministro de tensión polarizada de hasta ± 50 V y placas de fijación de prueba (DUT) de 2 A
Software de interfaz de sonda semiautomática
Líneas de carga personalizadas (anchura de pulsos): de 30 ns a 200 ns
Líneas de carga de VF-TLP: de 1,2 a 10 ns
Cables de TDR-S/retraso de tiempo personalizado: de 10 ns a 200 ns
Anchura de pulsos variable y tiempos de subida de 0,2 a 20 ns
Cambio de ordenadores entre 3 anchuras de pulso
Cambio de ordenadores entre 3 tiempos de subida
Agujas de sonda de obleas sólidas y coaxiales
Sondas de Kelvin para eliminar la resistencia de contacto de la oblea
Sondas de obleas de terreno adicionales (solo para TDR y TDT)
Sondas de obleas con puntas de distinto radio, tungsteno y cobre
Intervalo de temperaturaDe 5 a 44 °C (de 40 a 112 °F)
Peso (imperial)Peso del sistema patrón: 85 libras; peso con embalaje: 200 libras
Peso (métrico)Peso del sistema patrón: 38,6 kg; peso con embalaje: 91 kg
Unit SizeEach
Mostrando 1 de 1

El software del sistema Celestron es el más completo del sector. Durante las operaciones de pruebas muestra las formas de onda actuales y la tensión de pulsos TLP registrados, la curva I-V pulsada compilada, la medición de fugas de corriente y los datos de seguimiento de curva I-V de CC. El operador puede seleccionar el intervalo de tensiones de prueba (pulsos de tensión), la polaridad de los pulsos y los parámetros de seguimiento de curva y fuga. La posición y la duración del periodo de medición del TLP solo se pueden seleccionar y modificar después de recopilar los datos.

  • Caracterización de TLP a nivel de obleas y de paquetes
  • Controlador de sistema basado en Windows™ integrado
  • Generador de TLP con capacidad de 40 A
  • TLP estándar: duración de pulso de 100 ns
  • VF-TLP: duración de pulso de 10 ns
  • Duraciones opcionales disponibles, seleccionables de forma manual y por software
  • Tiempos de subida de pulsos opcionales, seleccionables de forma manual y por software
  • Varios modos de prueba disponibles, TDR-O, TDR-S, TDT, TDRT,  Hi-Z TDRT
  • Mediciones de Kelvin para las pruebas de nivel de obleas 
  • Unidad de medición/fuente integrada para mediciones de I-V de CC detalladas 
  • Suministro de tensión polarizada opcional (máximo de 5) controlado por ordenador para mediciones y pruebas con energía
  • Puede conectarse con sondas semiautomáticas
  • Software avanzado e intuitivo para el control y la generación de informes
  • Pequeño tamaño de sobremesa
  • Una sola configuración para las pruebas de TLP y VF-TLP.

Figuras

Documentos y descargas

Certificados

Buscar por número de lote o por número de lote parcial
Solicitar un certificado de análisis (COA)

    Preguntas frecuentes

    Citas y referencias

    Search citations by name, author, journal title or abstract text