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Realización de perfiles en profundidad | MAGCIS Dual Mode Ion Source |
Descripción | Fuente de iones de doble haz MAGCIS para instrumentos XPS |
Para utilizar con (equipo) | Espectrómetro de fotoelectrones con fuente de rayos X K-Alpha; microsonda ESCALAB 250Xi XPS; sistema Theta Probe de XPS con resolución angular |
Unit Size | Each |
Número de catálogo | Especificaciones | Formato | Descripción | Precio (ARS) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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IQLAADGAAFFAPFMBFP | Each | Fuente de iones de doble haz MAGCIS para instrumentos XPS | Contáctenos › | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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La espectroscopía de fotoelectrones de rayos X (XPS) utiliza una fuente de iones para extraer capas finas de los materiales con varias capas con el fin de caracterizar cada una de ellas. La técnica tiene muchas aplicaciones útiles, tales como investigar la estructura completa de las pantallas táctiles, medir los revestimientos depositados por plasma para dispositivos biomédicos o entender los OLED y las células solares.
A lo largo de los años, el XPS ha utilizado la pulverización de iones de argón para investigar los cambios en la composición química de las distintas capas de un material o para limpiar las superficies inorgánicas. Sin embargo, esta fuente de iones puede causar daños en la superficie de los materiales más blandos. Más recientemente, se han desarrollado fuentes de iones por agregación de gas para hacer frente a estas limitaciones, lo que permite llevar a cabo análisis de materiales que no se podían realizar mediante los perfiles de profundidad generados a través de XPS.
MAGCIS Dual Beam Ion Source for XPS Instruments funciona tanto en el modo monoatómico como en agregación de gas, lo que permite realizar análisis de perfiles de profundidad de una gran variedad de tipos de muestras. La fuente de iones MAGCIS se controla desde el software Thermo Scientific™ Avantage™, el software de análisis de superficies que se utiliza en todos los sistemas de XPS Thermo Scientific. Los operadores no ven los procesos de manipulación de gases o control de fuentes. Lo único que deben hacer es elegir el modo que desean emplear, ya sea un haz de iones «monoatómico» o «por agregación» de una energía concreta y ejecutar el experimento.
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