Thermo Scientific™

MAGCIS™ Dual Beam Ion Source for XPS Instruments

Número de catálogo: IQLAADGAAFFAPFMBFP
Thermo Scientific™

MAGCIS™ Dual Beam Ion Source for XPS Instruments

Número de catálogo: IQLAADGAAFFAPFMBFP
Realice análisis de materiales blandos y duros de forma simultánea con la fuente de iones de doble haz Thermo Scientific™ MAGCIS™ para instrumentos XPS. La fuente de iones MAGCIS, disponible en todos los instrumentos XPS Thermo Scientific nuevos, permite realizar perfiles en profundidad de materiales blandos como polímeros, mediante iones por agregación de gas, y de capas de materiales duros como metales o silicio, mediante iones monoatómicos. La fuente de iones de doble haz MAGCIS es perfecta para realizar perfiles de muestras como, por ejemplo, películas orgánicas muy finas, revestimientos de tejidos o electrónica impresa, y permite la caracterización de materiales de varias capas en un simple paso.
 
Número de catálogo
IQLAADGAAFFAPFMBFP
Formato
Each
Descripción
Fuente de iones de doble haz MAGCIS para instrumentos XPS
Precio (ARS)
Especificaciones completas
Realización de perfiles en profundidadMAGCIS Dual Mode Ion Source
DescripciónFuente de iones de doble haz MAGCIS para instrumentos XPS
Para utilizar con (equipo)Espectrómetro de fotoelectrones con fuente de rayos X K-Alpha; microsonda ESCALAB 250Xi XPS; sistema Theta Probe de XPS con resolución angular
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Realización de perfiles en profundidadMAGCIS Dual Mode Ion Source
DescripciónFuente de iones de doble haz MAGCIS para instrumentos XPS
Para utilizar con (equipo)Espectrómetro de fotoelectrones con fuente de rayos X K-Alpha; microsonda ESCALAB 250Xi XPS; sistema Theta Probe de XPS con resolución angular
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La espectroscopía de fotoelectrones de rayos X (XPS) utiliza una fuente de iones para extraer capas finas de los materiales con varias capas con el fin de caracterizar cada una de ellas. La técnica tiene muchas aplicaciones útiles, tales como investigar la estructura completa de las pantallas táctiles, medir los revestimientos depositados por plasma para dispositivos biomédicos o entender los OLED y las células solares. 

A lo largo de los años, el XPS ha utilizado la pulverización de iones de argón para investigar los cambios en la composición química de las distintas capas de un material o para limpiar las superficies inorgánicas. Sin embargo, esta fuente de iones puede causar daños en la superficie de los materiales más blandos. Más recientemente, se han desarrollado fuentes de iones por agregación de gas para hacer frente a estas limitaciones, lo que permite llevar a cabo análisis de materiales que no se podían realizar mediante los perfiles de profundidad generados a través de XPS. 

MAGCIS Dual Beam Ion Source for XPS Instruments funciona tanto en el modo monoatómico como en agregación de gas, lo que permite realizar análisis de perfiles de profundidad de una gran variedad de tipos de muestras. La fuente de iones MAGCIS se controla desde el software Thermo Scientific™ Avantage™, el software de análisis de superficies que se utiliza en todos los sistemas de XPS Thermo Scientific.  Los operadores no ven los procesos de manipulación de gases o control de fuentes. Lo único que deben hacer es elegir el modo que desean emplear, ya sea un haz de iones «monoatómico» o «por agregación» de una energía concreta y ejecutar el experimento.

Aplicaciones

  • Perfiles en profundidad de varias capas de polímeros.
  • Limpiar superficies de óxidos y vidrios.
  • Perfiles en profundidad de materiales mixtos (polímero/inorgánico).
  • Perfiles en profundidad de óxidos y metales.
  • Comprender la electrónica de polímeros.
  • Analizar dispositivos basados en grafeno.
  • Conformidad de los revestimientos biomédicos.
  • Comparar los tratamientos de los tejidos.
  • Células solares orgánicas e inorgánicas.
  • Preparar materiales de alto índice k para XPS con resolución angular.

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