El sistema de pruebas de cierre y ESD de recuento de pines bajo MK.1, un sistema listo para usar rentable y muy eficiente, es una sustitución directa de los sistemas KeyTek ZapMaster. El sistema MK.1 puede realizar pruebas de ESD conforme a los requisitos de impulso de arrastre del sector. También ofrece una función de pruebas de pines de alta impedancia, que incorpora una derivación de 10.000 durante la tensión para eliminar la rampa de tensión predescarga desarrollada antes de la ESD.

Prueba dispositivos de hasta 256 pines:
Los sistemas se pueden configurar con 64, 128, 192 o 256 pines y se pueden actualizar in situ. Ofrecen funcionalidades adicionales, capacidad de procesamiento más rápida y pruebas multicéntricas.

Operaciones basadas en relé:
Permite velocidades de prueba de 5 a 10 veces superiores a los sistemas de pruebas basados en robótica. 

Secuenciación de fuentes de alimentación para unas capacidades de cierre mejoradas:
Flexibilidad adicional para cubrir las necesidades de pruebas más exigentes de los diseños de sistemas en un chip integrados 

Salida del activador de eventos:
Gestione sus análisis de configuración con capacidades de activación de alcance personalizadas. Señales que permiten el uso de dispositivos externos en ubicaciones seleccionables de la secuencia de pruebas.

Modelo de cuerpo humano (HBM):
Según las especificaciones ESDA/JEDEC JS-001-2012, MIL-STD 883E y AEC Q100-002, de 30 V a 8 kV.
Prueba de varios estándares del sector en un sistema integrado sin necesidad de cambiar ni alinear las fuentes de impulso. 

Modelo de máquina (MM):
Según las especificaciones ESDA STM5.2, JEDEC EIA/JESD22-A115 y AEC Q100-003, de 30 V a 1 kV.
Las fuentes de impulsos integradas para las pruebas de cierre estáticas permiten una rápida ejecución de pruebas multicéntricas.

Pruebas de cierre estáticas:
Según las especificaciones JEDEC EIA/JESD 78 y AEC Q100-004. Las pruebas de cierre estáticas permiten el control de los pines del dispositivo en fase de prueba (DUT) mediante los suministros de tensión polarizada integrados. 

Hasta 4 suministros de V/I independientes:
Tensión del DUT, trazado de curvas y estímulos de cierre con detección de 4 cables en la matriz para una precisión elevada. El diseño del sistema también ofrece una alta capacidad eléctrica a través de la matriz V/I.

Distintas rutinas de autodiagnóstico:
Garantiza la integridad del sistema en toda la matriz del relé hasta la toma de prueba.

Informes de prueba:
Datos previos a la tensión, previos a fallos (ESD) y posteriores a fallos, así como seguimiento de curva completa y mediciones en puntos de datos específicos. Los datos se pueden exportar para la evaluación estadística y la presentación. 

Valores paramétricos de los pines:
Permite al usuario definir los niveles de V/I, los intervalos de conformidad y los parámetros de seguimiento de curva de cada pin. 

Otras características:

• Ofrece pruebas de cierre opcionales según el método EIA/JESD 78 de JEDEC de corriente.
• Proporciona datos de pruebas reproducibles y con alta repetibilidad mediante una matriz de relé.
• Permite importar archivos de dispositivos y planes de prueba existentes de plataformas de sistemas de pruebas de ESD Thermo Scientific más antiguos.
• Permite el uso directo de accesorios de prueba ZapMaster existentes y proporciona una función de importación con traducción de accesorios sencilla.
• Proporciona herramientas de análisis de fallos similares a las del sistema ZapMaster: medición de fuga relativa/comparación de curva seleccionable.