MK.1 ESD- und Latch-Up-Testsystem mit wenigen Pins

Stellen Sie sicher, dass Ihre Microcontroller mit wenigen Pins Ereignissen gemäß Human Body Modell (HBM) und Maschinenmodell (MM) standhalten können. Das Thermo Scientific™ MK.1 ESD- und Latch-Up-Testsystem mit wenigen Pins ist ein kompakter, einfach zu bedienender ESD-Simulator für ertragreiche ESD-Tests von Geräten mit bis zu 256 Pins. Das System prüft gemäß branchenüblichen Anforderungen, wie Pulsabfall, JEDEC und anderen. Unabhängig von der Endanwendung – wie etwa Kleingeräte, Pflegeprodukte, Automobilelektronik oder Leistungstransistoren – können Sie sicher sein, dass Ihre Komponenten regulatorischen Normen entsprechen.

Das MK.1 ESD- und Latch-Up-Testsystem mit wenigen Pins ist ein hocheffizientes, preisgünstiges, betriebsbereites System und ein unmittelbarer Ersatz für KeyTek ZapMaster-Systeme. Das MK.1-System ist in der Lage, ESD-Prüfungen gemäß industrieller Pulsabfallanforderungen durchzuführen. Das System bietet ebenso eine Funktion zur Hochimpedanz-Pinprüfung unter Verwendung eines 10 K Shunt-Widerstands, um einen eventuellen Spannungsanstieg bei Vorentladung, der sich vor der ESD-Entladung gebildet hat, zu vermeiden.

Zur Prüfung von Geräten von bis zu 256 Pins:
Systemkonfigurationen mit 64, 128, 192 oder 256 Pins, vor Ort aufrüstbar. Weitere Fähigkeiten, größerer Durchsatz, Multisite-Testdurchführung.

Relaisbasierter Betrieb:
Ermöglicht 5 bis 10 Mal schnellere Messungen als robotergesteuerte Testsysteme 

Verbesserte Latch-up Fähigkeit durch Spannungssequenzierung:
Zusätzliche Flexibilität, um anspruchsvollere Testansprüche integrierter System-on-Chip-Designs zu erfüllen 

Ereignisauslösung:
Verwalten Sie Ihre Setup-Analyse mit individuellen Trigger-Funktionen. Signale zum Freischalten externer Geräte in wählbaren Stellen innerhalb der Testsequenz.

Human Body Modell (HBM):
Gemäß Spezifikationen in ESDA/JEDEC JS-001-2012, MIL-STD 883E und AEC Q100-002, 30 V bis 8 kV.
Test gemäß mehreren Industrienormen in einem integrierten System, kein Wechsel und keine Ausrichtung der Pulsquellen. 

Maschinenmodell (MM):
Gemäß ESDA STM5.2, JEDEC EIA/JESD22-A115 und AEC Q100-003, 30 V bis 1 kV.
Integrierte Pulsquellen für statisches Latch-up Testing ermöglichen eine schnelle Multisite-Testdurchführung.

Statischer Latch-up Test:
Gemäß JEDEC EIA/JESD 78 und AEC Q100-004. Optionales statisches Latch-up Testing ermöglicht Kontrolle von DUT-Pins durch eingebettete Bias-Supplies. 

Bis zu 4 separate V/I-Quellen:
Stromversorgung des Testgeräts, Kurvenaufzeichnung, Latch-up Anregung mit vierfacher Abtastung an der Matrix für hohe Genauigkeit. Das Systemdesign ermöglicht Hochstromfähigkeit durch die V/I-Matrix.

Mehrere Selbsttest-Diagnoseroutinen:
Gewährleistet Systemintegrität innerhalb der gesamten Relaismatrix bis hin zum Testsockel.

Testberichte:
Vor Belastung, vor Ausfall (ESD) und nach Ausfall, sowie vollständige Kurvenaufzeichnungen und spezifische Datenpunktmessungen. Die Daten können für statistische Auswertung und Präsentation exportiert werden 

Individuelle Pin-Parametrik:
Ermöglicht es dem Anwender für jeden Pin einzeln V/I-Pegel, Einhaltungsbereiche und Kurvenverlaufsparameter zu definieren. 

Weitere Merkmale:

• Bietet optionales Latch-Up Testing nach der aktuellen JEDEC EIA/JESD 78 Methode
• Bietet höchst wiederholgenaue, reproduzierbare Daten unter Verwendung einer Relaismatrix
• Ermöglicht Import bestehender Prüfpläne und Gerätedateien älterer Thermo Scientific ESD-Testplattformen
• Ermöglicht die direkte Nutzung vorhandener ZapMaster Prüfvorrichtungen und bietet eine einfache Importfunktion für Vorrichtungsübersetzung
• Bietet Hilfsmittel zur Fehleranalyse ähnlich wie im ZapMaster Testsystem – wählbarer Kurvenvergleich/relative Ableitstrommessung