전자제품과 전기제품의 ESD 및 래치업(Latch-Up) 검사는 설계 및 제조 과정에서 매우 높은 비용을 유발할 수 있습니다. 특히 이는 더 작고, 더 빠르고, 더 스마트한 제품에 대한 시장 수요가 예외가 아닌 표준이 되어가는 현실을 통해 알 수 있습니다. MK.4 ESD and Latch-Up Test System은 검사 시스템에 대한 약 30년간의 경험에서 얻은 기술과 노하우와 함께, 이러한 변화를 관할하는 글로벌 규제 주체에 대한 심도 있는 참여와 기여를 통해 제품이 글로벌 표준과 산업 주도 품질 표준을 모두 만족할 수 있도록 하고 있습니다.
 

신속한 릴레이 기반 작업:
기계 구동식 ESD 검사기보다 10배 이상 빠른 뛰어난 속도를 제공합니다. 

전환 매트릭스:
일정한 ESD 경로를 제공하며, 설치된 V/I 전원 중 하나에 핀을 접지/플로트/벡터링/연결할 수 있도록 합니다. 

첨단 알고리즘: 
최신의 JEDEC/ESDA 후속 펄스 표준에 따라 펄스원 기술을 지원하여 정확한 HV 스위칭을 보장합니다.

HBM(Human Body Model):
ESDA/JEDEC, JS-001-2012, MIL-STD 883E, AEC Q100-002에 따라 25V ∼ 8kV까지 1V 단위로 검사합니다. 하나의 통합 시스템에서 여러 산업 표준에 대한 검사를 수행할 수 있으며, 펄스원의 변경이나 조정이 필요하지 않습니다.

MM(Machine Model):
ESDA STM5.2, JEDEC/JESD22-A115, AEC Q100-003에 따라 25V ∼ 1.5kV까지 1V 단위로 검사합니다. 빠른 다중 동시(Multi-site) 검사를 실행할 수 있습니다.

래치업(Latch-Up) 검사:
JEDEC/JESD 78 검사 핀 및 AEC Q100-004에 따릅니다. 사전 조건화, 상태 읽어들이기(state read-back)및 각 핀의 완전한 제어를 포함합니다. 핀 드라이버: 표준 테스터 플랫폼의 벡터 입력/내보내기 기능 및 매개변수 측정.

이벤트 트리거 출력:
맞춤화된 범위 트리거 기능으로 설정 분석을 관리할 수 있습니다. 

최대 8개의 별도 V/I 전원(자극 전원 1개 및 바이어스 전원 7개)
높은 정확도의 DUT 전원, 커브 트레이싱 및 래치업 자극을 사용할 수 있습니다. 설계 상 V/I 매트릭스를 통해 높은 전류 용량을 제공합니다.

다중 자가검사 진단 루틴:
테스트 소켓까지 전체 릴레이 매트릭스 전반에서 시스템 무결성을 보장합니다.

검사 보고: 
사전 스트레스, 사전 실패(ESD), 사후 실패 데이터와 전체 커브 트레이스 및 상세 데이터 지점 측정치를 제공합니다. 통계적 평가 및 프레젠테이션을 위해 데이터를 내보낼 수 있습니다.

개별 핀 매개변수:
각 핀에 대해 개별적으로 V/I 레벨, 준수 범위, 커브 트레이스 매개변수를 정의할 수 있습니다.

기타 특징:

• 솔리드 스테이트 매트릭스 토폴로지로 신속하고 간편한 검사 작업이 가능합니다. 
• 6개의 독립 벡터 전압 레벨로 복잡한 I/O 및 멀티 코어 제품을 손쉽게 검사할 수 있습니다.
• 래치업 자극 및 기기 바이어싱을 제공합니다. 
• 6개의 분리된 벡터 드라이브 레벨로 고급 기기 사전 조건화를 제공합니다. 
• 한 번에 최대 12개 기기의 ESD 테스팅과 함께, 8개/4개 기기의 병렬 커브 트레이싱이 가능합니다.
• 검사 자동화를 위해 필요에 따라 보조 검사 장비를 관리합니다. 
• 유연한 프로그래밍, 손쉬운 자동화 검사 구성, TCP/IP 통신을 제공합니다.
• 종합적인 엔지니어링 벡터 디버그는 유연성을 제공합니다.