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카탈로그 번호 | 설명 |
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1044530 | Sample Cone, Nickel |
1047460 | Skimmer Cone, Platinum, Boron-Free (For Semiconductor Related Applications) |
1047461 | Skimmer Cone, Platinum |
1067500 | Sample Cone, Platinum, Boron-Free (For Semiconductor Related Applications) |
1067501 | Sample Cone, Platinum |
1067600 | Skimmer Cone, Nickel |
1142150 | Skimmer Cone, Platinum, X-Version, Boron-Free (For Semiconductor Related Applications) |
1142151 | Skimmer Cone, Platinum, X-Version |
1142160 | Skimmer Cone, Nickel, X-Version |
1184050 | Sample Cone, Aluminum (For Laser Ablation) |
1184060 | Skimmer Cone, Aluminum (For Laser Ablation) |
1260630 | Jet Sample Cone, Nickel |
BRE0010791 | Jet Sample Cone, Platinum, Boron Free (For Semiconductor Related Applications) |
BRE0010792 | Jet Sample Cone, Platinum, with Boron |
현장에서 검증된 이 고품질 콘은 HR-ICP-MS에 의한 검출 한계 수준까지 신뢰할 수 있는 고감도 분석이 가능하도록 설계되었습니다. 순 Ni 구조, 향상된 내구성의 Pt 팁 또는 특정 분석 요구 사항을 충족하는 Al으로 제공됩니다.