MK.2-SE ESD and Latch-Up Test System은 정밀하고 재현성 있는 데이터를 제공하여 검사 목표를 정의하고, 달성하고, 유지하는 데 도움을 줍니다. 이 시스템은 최소한의 교육으로 쉽게 작동할 수 있고, 전자 부품이 가장 높은 수준의 표준을 만족하는 것을 보장하도록 다음과 같은 기능을 제공합니다.
 

릴레이 기반 작업:
로봇 구동식 검사기보다 검사 속도가 5 ∼ 10배 더 빠릅니다.

이벤트 트리거 출력:
맞춤화된 범위 트리거 기능으로 설정 분석을 관리할 수 있습니다. 

HBM(Human Body Model):
ESDA/JEDEC, JS-001-2012, MIL-STD 883E, AEC Q100-002 규격에 따라 30V ∼ 8kV까지 검사합니다. 하나의 통합 시스템에서 여러 산업 표준에 대한 검사를 수행할 수 있으며, 펄스원의 변경이나 조정이 필요하지 않습니다. 

MM(Machine Model):
ESDA STM5.2, JEDEC EIA/JESD22-A115, AEC Q100-003에 따라 30V ∼ 2kV까지 검사합니다. 내장 펄스원으로 빠른 다중 동시(Multi-site) 검사를 실행할 수 있습니다. 

래치업(Latch-Up) 검사:
JEDEC EIA/JESD 및 AEC Q100-004에 따라 수행됩니다. 사전 조건화, 상태 읽어들이기(state read-back), 각 테스트 핀의 완전한 제어를 포함합니다. 래치업 검사 동안 사용하는 핀 드라이버: 표준 테스터 플랫폼의 벡터 입력/내보내기 기능 및 매개변수 측정.

핀당 64k 벡터 및 읽어들이기(read-back):
각 매트릭스 핀 뒤의 전체 실시간 대역폭.

최대 10MHz의 벡터 비율(프로그래밍 가능):
내부 클럭의 검사를 위해 기기를 원하는 상태로 빠르고 정확하게 설정할 수 있습니다. 

최대 6개의 별도 V/I 전원(자극 전원 1개 및 바이어스 전원 5개)
높은 정확성을 위해 DUT 보드에 DUT 전원, 커브 트레이싱, 4선 감지를 통한 래치업 자극을 제공합니다. 또한 시스템 설계는 V/I 매트릭스를 통해 높은 전류 용량을 제공합니다. 

다중 자가검사 진단 루틴:
테스트 소켓까지 전체 릴레이 매트릭스 전반에서 시스템 무결성을 보장합니다. 

테스트 보고서: 사전 스트레스, 사전 실패(ESD):
통계적 평가와 프레젠테이션을 위해 사전 실패 데이터와 전체 커브 트레이스 및 특정 데이터 지점 측정치 등의 데이터를 내보낼 수 있습니다. 

개별 핀 매개변수:
각 핀에 대해 개별적으로 V/I 레벨, 준수 범위, 커브 트레이스 매개변수를 정의할 수 있습니다.

기타 특징:

• Scimitar™ 소프트웨어 플랫폼을 사용해 직관적으로 설정하고 작동할 수 있습니다.
• 사전 조건화 옵션을 사용하면 DUT를 복잡한 검사와 벡터 패턴에 벡터링하여 뛰어난 제어 성능을 얻을 수 있습니다.
• 종합적인 엔지니어링 벡터 디버그는 까다로운 벡터링 설정을 위한 유연성을 제공합니다.
• Scimitar의 “플러그인” 기능을 통해 오실로스코프, 전원공급장치 등의 외부 기기를 제어합니다.
• Thermo Scientific™ EvaluWave 파형 분석 패키지는 파형 성능을 검증하거나 이전에 포착한 파형을 분석하는 데도 사용할 수 있습니다.
• 유연한 모듈식 설계는 기업 또는 산업 표준이 변경될 때 현장 업그레이드를 가능하게 합니다.