MK.1 Low Pin Count ESD and Latch-Up Test System은 높은 효율성과 경제성을 갖춘 턴키 시스템으로, KeyTek ZapMaster 시스템을 직접 대체할 수 있습니다. MK.1 시스템은 산업의 후속 펄스 요건에 부합하여 ESD 검사를 수행할 수 있습니다. 또한 고임피던스 핀 검사 기능을 제공합니다. 이 기능은 스트레스를 가할 때 10K 분로를 사용하여 ESD 방전 이전에 발생한 모든 사전 방전 전압 램프를 제거합니다.

최대 256핀 기기 검사:
시스템을 64, 128, 192, 또는 256핀으로 구성할 수 있고, 현장에서 업그레이드할 수 있습니다. 더 많은 용량, 더 빠른 처리속도로 동시(Multi-site) 검사를 수행합니다.

릴레이 기반 작업:
로봇 구동식 검사기보다 검사 속도가 5 ∼ 10배 더 빠릅니다. 

래치업 기능 개선을 위한 전원 공급 순서 결정:
통합 시스템온칩(system-on-chip) 설계의 까다로운 검사 요구에 맞춰 유연성을 강화했습니다.  

이벤트 트리거 출력:
맞춤화된 범위 트리거 기능으로 설정 분석을 관리할 수 있습니다. 검사 순서 내에서 선택 가능한 위치에 있는 외부 기기를 활성화하도록 신호를 보냅니다.

HBM(Human Body Model):
ESDA/JEDEC JS-001-2012, MIL-STD 883E, AEC Q100-002 규격에 따라 수행됩니다. 30V ∼ 8kV.
여러 산업 표준을 하나의 통합 시스템에서 검사하며, 펄스원의 변경이나 조정이 필요하지 않습니다. 

MM(Machine Model):
ESDA STM5.2, JEDEC EIA/JESD22-A115, AEC Q100-003에 따라 수행됩니다. 30V ∼ 1kV.
정적 래치업 검사용 내장 펄스원으로 빠른 다중 동시(Multi-site) 검사를 실행할 수 있습니다.

정적 래치업(Latch-Up) 검사:
JEDEC EIA/JESD 78 및 AEC Q100-004에 따라 수행됩니다. 정적 래치업 검사 옵션을 사용하면 내장된 바이어스 전원을 사용하여 DUT 핀을 제어할 수 있습니다. 

최대 4개의 별도 V/I 전원:
높은 정확성을 위해 매트릭스에 DUT 전원, 커브 트레이싱, 4선 감지를 통한 래치업 자극을 제공합니다. 또한 시스템 설계는 V/I 매트릭스를 통해 높은 전류 용량을 제공합니다.

다중 자가검사 진단 루틴:
테스트 소켓까지 전체 릴레이 매트릭스 전반에서 시스템 무결성을 보장합니다.

검사 보고:
사전 스트레스, 사전 실패(ESD), 사후 실패 데이터와 전체 커브 트레이스 및 상세 데이터 지점 측정치를 제공합니다. 통계적 평가 및 프레젠테이션을 위해 데이터를 내보낼 수 있습니다. 

개별 핀 매개변수:
각 핀에 대해 개별적으로 V/I 레벨, 준수 범위, 커브 트레이스 매개변수를 정의할 수 있습니다. 

기타 기능:

• JEDEC의 최신 EIA/JESD 78 Method에 따른 래치업 검사 옵션 제공
• 릴레이 매트릭스를 사용해 반복성과 재현성 높은 검사 데이터를 제공합니다.
• 기존 Thermo Scientific ESD 검사기 플랫폼에서 기존 검사 계획과 기기 파일을 가져올 수 있습니다.
• 기존 ZapMaster 검사 고정장치를 직접 사용할 수 있으며 쉬운 고정장치 변환 가져오기 기능을 제공합니다.
• ZapMaster 검사 시스템에서와 유사한 실패 분석 도구를 제공합니다(선택형 커브 비교/상대 누설 측정).