El software Pathfinder destaca en la caracterización de materiales conocidos, así como en la detección de elementos desconocidos o contaminantes. Puesto que el software Pathfinder examina los datos de las imágenes espectrales píxel a píxel, puede hallar elementos menores o trazas en las matrices más complejas. Nuestro exclusivo juego de 29 filtros de imagen ofrece nuevas herramientas de mejora de los datos que le proporcionan la imagen más clara y comprensible de los datos SEM/EDS y SEM/WDS.

• Modos de «Puesta en marcha rápida» y modos de potencia desarrollados por el usuario
• Gama completa de técnicas de adquisición de datos: Espectro, modo de punto, barrido lineal y mapeo con  adquisición de imágenes espectrales
• Cuantificación e ID de picos automáticos, con o sin patrones
• Algoritmos avanzados de sustracción de fondo, deconvulsión de picos y análisis cuantitativo que ofrecen una extraordinaria precisión en el análisis de los datos
• Elaboración de informes con un solo clic. Licencia de la instalación sin microscopio sin límite y compatibilidad total con los servidores de datos internos que permiten un verdadero enfoque «lleve los datos a cualquier lugar» para el análisis de datos sin conexión.

• Calcula y muestra mapas cuantitativos en tiempo real a medida que se adquieren los datos
• Las extracciones de lotes admiten mosaicos en 2D y 3D
• Compensación de desviación automática basada en el moderno algoritmo FFT
• Avanzada base de datos de coincidencias de espectro para la identificación automática de espectros

• Requiere muy pocos datos con complejos mapas de fase realizados en menos de un minuto
• Detecta elementos menores y trazas incluso en las matrices más complejas; encuentra agujas en un pajar 
• Utiliza la deconvolución espacial, los espectros se optimizan automáticamente para obtener análisis de mayor confianza
• Totalmente automatizado y programático, proporciona una respuesta única e inequívoca a sus análisis cada vez que los realiza

• 29 exclusivos filtros de adquisición de imágenes por rayos X para suavizado, hallazgo de bordes, nitidez y erosión/dilatación
• Automatización completa del análisis para el mapeo multifotograma, barridos lineales con movimiento de fase y análisis multipunto
• Recogida eficaz de mapas de áreas muy grandes.