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2011년 R&D 100 Award를 수상한 제품입니다. Thermo Scientific™ Evolution 201/220 UV-Vis Spectrophotometer는 실험실의 분석 능력을 확장하고 생산성을 높여 줍니다. 이 기기는 차세대 Thermo Scientific™ INSIGHT™ 소프트웨어와 함께 사용하여 태블릿과 컴퓨터 제어가 가능하며 항상 최신 기능을 유지하여 차세대 시료 분석에도 대처할 수 있습니다. 논리적 측정 단계와 출력 환경을 모두 완전 맞춤형으로 설정할 수 있는 당사의 Customized User Environment(CUE) 소프트웨어는 일상적인 측정 작업을 한 차원 더 높여 줍니다.
카탈로그 번호
912A0883
제품 사이즈
Each
제품라인
Evolution 201
유형
Spectrophotometer plus Tablet Control Module - US, CAN, JP
제품 정가(KRW)
| 베이스라인 평탄도 | ±0.0010 A, 200 to 800 nm, 1.0 nm SBW, smoothing |
| 인증/적합성 | ISO 9001:2008 |
| 연결 | USB or RS-232 |
| 깊이(영국식 단위) | 24.3 in. |
| 깊이(미터법) | 62.2 mm |
| 설명 | Evolution 201 Tablet Control Module US, CAN, JP |
| 검출기 유형 | Dual Silicon Photodiodes |
| 디스플레이 | No Display |
| 치수(길이 x 폭 x 높이) | 62.2 x 48.6 x 27.9 cm (24 x 19 x 11 in.) |
| 제품라인 | Evolution 201 |
| 스펙트럼 대역폭 | 1 nm |
| 유형 | Spectrophotometer plus Tablet Control Module - US, CAN, JP |
| Wavelength Range | 190 to 1100 nm |
| 드리프트 | <0.0005 A/hr., 500 nm, 1.0 nm SBW, 1 hr. warmup |
| 전기 요구사항 | 100/240 V, 50/60 Hz selected automatically, 150 W maximum |
| 보유 | Cuvettes up to 100 mm |
| 키패드 | Sealed membrane |
| 램프 수명 | 7 years typical |
| 노이즈 | 0A: <0.00015A; 1A:<0.00025A; 2A: <0.00080A; 260nm, 1.0nm SBW, RMS |
| 광학 디자인 | Double Beam with sample and reference cuvette positions; Czerny-Turner Monochromator |
| 약전 규정 준수 검사 | Resolution (Toluene in Hexane): ≥1.8A Photometric Accuracy (60mg/L K2Cr2O7): ±0.010A Stray Light: ≤1%T at 198nm: KCI; ≤0.05%AT at 220nm: Nal, Kl Wavelength Accuracy: ±.5nm 541.9, 546.1nm Hg emission lines, ±0.8nm full range Wavelength Repeatability: ≤0.05nm, repetitive scanning of 546.1nm Hg emission line |
| 광도 디스플레이 | -0.3 to 4.0A |
| 광도 범위 | >3.5A |
| 광도 반복성 | ±0.0002 A |
| 프로세서 | INSIGHT 2 Software is compatible with Windows™ 7 and Windows 8.1 Professional Editions |
| 스캔 좌표 모드 | Absorbance, % Transmittance, % Reflectance, Kubelka-Munk, log (1/R). log (Abs) Abs*, Intensity |
| 스캔 속도 | <1 to 6000 nm/min. (Variable) |
| 워런티 | 3 Years |
| 와트 | 150 W max. |
| 파장 정확도 | ±0.5 nm (541.9, 546.1 nm mercury lines), ±0.8 nm (full range 190 to 1100 nm) |
| 파장 데이터 간격 | 10, 5, 2, 1.0, 0.5, 0.2, 0.1 nm |
| 파장 반복성 | ≤0.05 nm (546.1 nm mercury line, SD of 10 measurements) |
| 중량(미터법) | 14.4 kg |
| Unit Size | Each |
카탈로그 번호
제품 사이즈
Each
제품라인
Evolution 201
유형
Computer Control UV-Vis Spectrophotometer
제품 정가(KRW)
| 베이스라인 평탄도 | ±0.0010 A, 200 to 800 nm, 1.0 nm SBW, smoothing |
| 인증/적합성 | ISO 9001:2008 |
| 연결 | USB or RS-232 |
| 설명 | Evolution 201 UV-Vis Spectrophotometer, Computer Control, includes Euro/US/UK power cords |
| 검출기 유형 | Dual Silicon Photodiodes |
| 디스플레이 | No Display |
| 치수(길이 x 폭 x 높이) | 62.2 x 48.6 x 27.9 cm (24 x 19 x 11 in.) |
| 제품라인 | Evolution 201 |
| 스펙트럼 대역폭 | 1 nm |
| 유형 | Computer Control UV-Vis Spectrophotometer |
| Wavelength Range | 190 to 1100 nm |
| 드리프트 | <0.0005 A/hr., 500 nm, 1.0 nm SBW, 1 hr. warmup |
| 전기 요구사항 | 100/240 V, 50/60 Hz selected automatically, 150 W maximum |
| 보유 | Cuvettes up to 100 mm |
| 포함 | EU/US/UK power cords |
| 램프 수명 | 7 years typical |
| 노이즈 | 0A: <0.00015A; 1A:<0.00025A; 2A: <0.00080A; 260 nm, 1.0 nm SBW, RMS |
| 광학 디자인 | Double Beam with sample and reference cuvette positions; Czerny-Turner Monochromator |
| 약전 규정 준수 검사 | Photometric Accuracy (60mg/L K2Cr2O7): ±0.010A Stray Light: ≤1%T at 198 nm: KCI; ≤0.05%AT at 220 nm: Nal, Kl Wavelength Accuracy: ±.5 nm 541.9, 546.1nm Hg emission lines, ±0.8 nm full range Wavelength Repeatability: ≤0.05 nm, repetitive scanning of 546.1 nm Hg emission line |
| 광도 디스플레이 | -0.3 to 4.0A |
| 광도 범위 | >3.5A |
| 광도 반복성 | ±0.0002 A |
| 프로세서 | Microsoft Windows 7, Windows 8 |
| 스캔 좌표 모드 | Absorbance, % Transmittance, % Reflectance, Kubelka-Munk, log (1/R). log (Abs) Abs*, Intensity |
| 스캔 속도 | <1 to 6000 nm/min. (Variable) |
| 워런티 | 3 Years |
| 와트 | 150 W max. |
| 파장 정확도 | ±0.5 nm (541.9, 546.1 nm mercury lines), ±0.8 nm (full range 190 to 1100 nm) |
| 파장 데이터 간격 | 10, 5, 2, 1.0, 0.5, 0.2, 0.1 nm |
| 파장 반복성 | ≤0.05 nm (546.1 nm mercury line, SD of 10 measurements) |
| 중량(영국식 단위) | 32 lb. |
| 중량(미터법) | 14.4 kg |
| Unit Size | Each |
| 베이스라인 평탄도 | ±0.0010 A, 200 to 800 nm, 1.0 nm SBW, smoothing |
| 인증/적합성 | ISO 9001:2008 |
| 연결 | USB or RS-232 |
| 깊이(영국식 단위) | 24.3 in. |
| 깊이(미터법) | 62.2 mm |
| 설명 | Evolution 201 Spectrophotometer plus Tablet Control Module - International |
| 검출기 유형 | Dual Silicon Photodiodes |
| 디스플레이 | No Display |
| 치수(길이 x 폭 x 높이) | 62.2 x 48.6 x 27.9 cm (24 x 19 x 11 in.) |
| 제품라인 | Evolution 201 |
| 스펙트럼 대역폭 | 1 nm |
| 유형 | Spectrophotometer plus Tablet Control Module - INTL |
| Wavelength Range | 190 to 1100 nm |
| 드리프트 | <0.0005 A/hr., 500 nm, 1.0 nm SBW, 1 hr. warmup |
| 전기 요구사항 | 100/240 V, 50/60 Hz selected automatically, 150 W maximum |
| 보유 | Cuvettes up to 100 mm |
| 키패드 | Sealed membrane |
| 램프 수명 | 7 years typical |
| 노이즈 | 0A: <0.00015A; 1A:<0.00025A; 2A: <0.00080A; 260nm, 1.0nm SBW, RMS |
| 광학 디자인 | Double Beam with sample and reference cuvette positions; Czerny-Turner Monochromator |
| 약전 규정 준수 검사 | Resolution (Toluene in Hexane): ≥1.8A Photometric Accuracy (60mg/L K2Cr2O7): ±0.010A Stray Light: ≤1%T at 198nm: KCI; ≤0.05%AT at 220nm: Nal, Kl Wavelength Accuracy: ±.5nm 541.9, 546.1nm Hg emission lines, ±0.8nm full range Wavelength Repeatability: ≤0.05nm, repetitive scanning of 546.1nm Hg emission line |
| 광도 정확도 | 1 A: ±0.006A, 2 A: ±0.010 A, Measured at 440 nm |
| 광도 디스플레이 | -0.3 to 4.0A |
| 광도 범위 | >3.5A |
| 광도 반복성 | ±0.0002 A |
| 프로세서 | INSIGHT 2 Software is compatible with Windows™ 7 and Windows 8.1 Professional Editions |
| 스캔 좌표 모드 | Absorbance, % Transmittance, % Reflectance, Kubelka-Munk, log (1/R). log (Abs) Abs*, Intensity |
| 스캔 속도 | <1 to 6000 nm/min. (Variable) |
| 워런티 | 3 Years |
| 와트 | 150 W max. |
| 파장 정확도 | ±0.5 nm (541.9, 546.1 nm mercury lines), ±0.8 nm (full range 190 to 1100 nm) |
| 파장 데이터 간격 | 10, 5, 2, 1.0, 0.5, 0.2, 0.1 nm |
| 파장 반복성 | ≤0.05 nm (546.1 nm mercury line, SD of 10 measurements) |
| 중량(미터법) | 14.4 kg |
| Unit Size | Each |
| 베이스라인 평탄도 | ±0.0010 A, 200 to 800 nm, 1.0 nm SBW, smoothing |
| 설명 | Evolution 220 Tablet Control Module US, CAN, JP |
| 검출기 유형 | Dual Silicon Photodiodes |
| 디스플레이 | No Display |
| 치수(길이 x 폭 x 높이) | 62.2 x 48.6 x 27.9 cm (24 x 19 x 11 in.) |
| 제품라인 | Evolution 220 |
| 스펙트럼 대역폭 | 1.0, 2.0 nm Variable |
| 유형 | Spectrophotometer plus Tablet Control Module - US, CAN, JP |
| Wavelength Range | 190 to 1100 nm |
| 드리프트 | <0.0005 A/hr., 500 nm, 1.0 nm SBW, 1 hr. warmup |
| 전기 요구사항 | 100/240 V, 50/60 Hz selected automatically, 150 W maximum |
| 키패드 | Sealed membrane |
| 램프 수명 | 7 years typical |
| 노이즈 | 0A: <0.00015A; 1A: <0.00025A; 2A: <0.00080A; 260nm, 1nm SBW, RMS |
| 광학 디자인 | AFBG Microcell optimized, AFBG Fiber optic optimized, AFBG Materials optimized |
| 약전 규정 준수 검사 | (Guaranteed Performance Specifications) Resolution (toluene in Hexane): ≥1.8A Photometric Accuracy (60 mg/L K2Cr2O7): ±0.010A Stray Light: ≤1%T at 198nm: KCI; ≤0.05%AT at 220nm: Nal, Kl Wavelength Accuracy: ±0.5nm 541.9, 546.1nm Hg emission lines, ±0.8nm full range Wavelength Repeatability: ≤0.05nm, repetitive scanning of 546.1nm Hg emission line |
| 광도 정확도 | 1 A: ±0.006A, 2 A: ±0.010 A, Measured at 440 nm |
| 광도 디스플레이 | -0.3 to 4.0A |
| 광도 범위 | >3.5A |
| 광도 반복성 | ±0.0002 A |
| 프로세서 | Microsoft Windows™ XP embedded. INSIGHT 2 Software is also compatible with Windows 7 and Windows 8.1 Professional Editions. |
| 스캔 좌표 모드 | Absorbance, % Transmittance, % Reflectance, Kubelka-Munk, log (1/R), log (Abs), Abs*Factor, Intensity |
| 스캔 속도 | <1 to 6000 nm/min. (Variable) |
| 워런티 | 3 Years |
| 파장 정확도 | ±0.5 nm (541.9, 546.1 nm mercury lines), ±0.8 nm (full range 190 to 1100 nm) |
| 파장 데이터 간격 | 10, 5, 2, 1.0, 0.5, 0.2, 0.1 nm |
| 파장 반복성 | ≤0.05 nm (546.11 nm mercury line, SD of 10 measurements) |
| 중량(미터법) | 14.4 kg |
| Unit Size | Each |
| 베이스라인 평탄도 | ±0.0010 A, 200 to 800 nm, 1.0 nm SBW, smoothing |
| 인증/적합성 | Certificate of Analysis (COA), Certificate of Conformance (COC) |
| 설명 | Evolution 220 Spectrophotometer plus Tablet Control Module - International |
| 검출기 유형 | Dual Silicon Photodiodes |
| 디스플레이 | No Display |
| 치수(길이 x 폭 x 높이) | 62.2 x 48.6 x 27.9 cm (24 x 19 x 11 in.) |
| 제품라인 | Evolution 220 |
| 스펙트럼 대역폭 | 1.0, 2.0 nm Variable |
| 유형 | Spectrophotometer plus Tablet Control Module - INTL |
| Wavelength Range | 190 to 1100 nm |
| 드리프트 | <0.0005 A/hr., 500 nm, 1.0 nm SBW, 1 hr. warmup |
| 전기 요구사항 | 100/240 V, 50/60 Hz selected automatically, 150 W maximum |
| 용도(애플리케이션) | Spectroscopy Elemental Isotope Analysis |
| 키패드 | Sealed membrane |
| 램프 수명 | 7 years typical |
| 노이즈 | 0A: <0.00015A; 1A: <0.00025A; 2A: <0.00080A; 260nm, 1nm SBW, RMS |
| 광학 디자인 | AFBG Microcell optimized, AFBG Fiber optic optimized, AFBG Materials optimized |
| 약전 규정 준수 검사 | (Guaranteed Performance Specifications) Resolution (toluene in Hexane): ≥1.8A Photometric Accuracy (60 mg/L K2Cr2O7): ±0.010A Stray Light: ≤1%T at 198nm: KCI; ≤0.05%AT at 220nm: Nal, Kl Wavelength Accuracy: ±0.5nm 541.9, 546.1nm Hg emission lines, ±0.8nm full range Wavelength Repeatability: ≤0.05nm, repetitive scanning of 546.1nm Hg emission line |
| 광도 정확도 | 1 A: ±0.006A, 2 A: ±0.010 A, Measured at 440 nm |
| 광도 디스플레이 | -0.3 to 4.0A |
| 광도 범위 | >3.5A |
| 광도 반복성 | ±0.0002 A |
| 프로세서 | Microsoft Windows™ XP embedded. INSIGHT 2 Software is also compatible with Windows 7 and Windows 8.1 Professional Editions. |
| 스캔 좌표 모드 | Absorbance, % Transmittance, % Reflectance, Kubelka-Munk, log (1/R), log (Abs), Abs*Factor, Intensity |
| 스캔 속도 | <1 to 6000 nm/min. (Variable) |
| 워런티 | 3 Years |
| 파장 정확도 | ±0.5 nm (541.9, 546.1 nm mercury lines), ±0.8 nm (full range 190 to 1100 nm) |
| 파장 데이터 간격 | 10, 5, 2, 1.0, 0.5, 0.2, 0.1 nm |
| 파장 반복성 | ≤0.05 nm (546.11 nm mercury line, SD of 10 measurements) |
| 중량(미터법) | 14.4 kg |
| Unit Size | Each |
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| 카탈로그 번호 | 사양 | 제품 사이즈 | 제품라인 | 유형 | 제품 정가(KRW) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| 912A0883 | Each | Evolution 201 | Spectrophotometer plus Tablet Control Module - US, CAN, JP | 연락처 › | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| 840-210800 | Each | Evolution 201 | Computer Control UV-Vis Spectrophotometer | 연락처 › | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| 912A0890 | Each | Evolution 201 | Spectrophotometer plus Tablet Control Module - INTL | 연락처 › | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| 912A0884 | Each | Evolution 220 | Spectrophotometer plus Tablet Control Module - US, CAN, JP | 연락처 › | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| 912A0889 | Each | Evolution 220 | Spectrophotometer plus Tablet Control Module - INTL | 연락처 › | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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일상적 수준에서 연구 수준 분석에 이르기까지 이 기기 시리즈는 복잡성은 가중되지 않으면서 활용성과 성능을 모두 높여 주는 실제적인 혁신을 제공합니다. 간단 명료한 소프트웨어, 첨단 기능 및 다양한 부속품 선택 옵션을 통해 Evolution 201 및 220 시스템은 사용자가 원하는 방식으로 실험을 수행하여 필요한 결과를 제공합니다.
INSIGHT 소프트웨어 - 복잡성을 단순화
- 쉬운 탐색(navigation)과 편리성을 위해 홈(home) 화면을 맞춤형으로 설정 가능
- 워크북 도구로 시간 절감 및 결과의 정확도 향상
- CUE 스크립팅으로 맞춤형 인터페이스 및 간소화된 워크플로우 생성 가능
최적화된 엔지니어링으로 최상의 성능 제공
- 1nm 스펙트럼 대역폭의 double-beam geometry로 측정 정밀도 향상
- Application Focused Beam Geometry (AFBG) 기술을 통해 마이크로셀, 고체 시료 및 광섬유 프로브에서 최상의 성능 제공
- Xenon flash lamp는 warm-up 시간이 필요 없어 즉각적인 측정 가능
- 전자 장치를 통한 트리거는 고속 혼합 키네틱(rapid-mixing kinetics) 측정에서 최고 수준의 정확도 제공
- 정밀 단색화 장치(monochromator) 드라이브는 고속 스캐닝 데이터 수집 및 파장 정확도 제공
간단한 조작으로 편의성 향상
- 빌트인 컴퓨터를 사용하는 컬러 터치스크린으로 기기 제어
- 통합 키패드로 INSIGHT 소프트웨어 제어
- 로컬 또는 PC 구성 선택 옵션으로 유연성과 편의성 제공
모든 시료 분석 요구에 적합한 액세서리 제공
- 다양한 온도 제어 옵션, 시료 교환기, 시퍼(sipper) 및 고체 샘플링 장치를 포함하여 분석에 필요한 다양한 액세서리 선택 옵션 제공
- 0° ∼ 100°C 범위의 온도 제어 및 시료 모니터링을 위해 Peltier Single Cell Holder 또는 Smart 8-Cell Peltier system 선택 가능
- 간편한 소프트웨어 통합으로 측정에 대한 완벽한 제어 가능
시스템 성능 보증
- Thermo Scientific UV Validator 패키지는 시스템 적격성(qualification) 및 검증(validation) 작업 지원
- 문서화를 통해 시스템이 FDA,GxP, ISO 9001:2000 및 ISPE 2001 지침과 규정 요건을 준수하도록 지원
- 기기 보정 수행을 위해 수은 램프 액세서리 사용 가능
- Thermo Scientific INSIGHT 보안 소프트웨어는 21 CFR Part 11 요건을 만족하는 완전한 도구 제공
그림
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