MK.2-SE ESD およびラッチアップ検査システムは、正確で再現性あるデータを提供し、検査目標の決定、達成および維持に役立ちます。システムは最小限のトレーニングで簡単に操作でき、電子部品が最高レベルの規格に確実に適合するよう次の機能を提供します。
 

リレーベースの動作:
ロボット駆動型の検査装置よりも 5～10 倍速い検査速度を実現。

イベントトリガー出力:
カスタマイズされたスコープトリガー機能で、セットアップ分析を管理。 

人体モデル (HBM):
ESDA/JEDEC JS-001-2012、MIL-STD 883E、および AEC Q100-002 仕様による、30V～8kV。 単一の統合システムで複数の業界基準に対して検査; パルス電源の変更やアライメントの必要なし。 

マシンモデル (MM):
ESDA STM5.2、JEDEC EIA/JESD22-A115、およびAEC Q100-003 による、30V～2kV。 包括的パルス電源により、複数のサイトで迅速に検査を実施できます。 

ラッチアップ検査:
JEDEC EIA/JESD 78 および AEC Q100-004 による。 前処理、状態のリードバック、および各検査ピンの完全制御を含みます。 ラッチアップ検査中に使用するピンドライバー:  標準検査機器のプラットフォームおよびパラメトリック測定からのベクターのインプット/エクスポート機能。

リードバック付きの、1 ピン当たり 64k ベクトル:
各マトリックスピンによるリアルタイムの完全な処理能力。

最高 10 MHz までのプログラム可能なベクトル比:
内部クロックに基づき、デバイスを所定の検査状態に素早く正確に設定。 

最高 6 個の個別 V/I 供給 (スティミュラス 1 個、バイアス 5 個)
高精度を実現する DUT 電源、カーブトレーシング、および DUT 基盤に 4 線式検知を備えたラッチアップ刺激。また、システム設計は V/I マトリックスを介して高電流性能を提供。 

複数のセルフ検査診断ルーチン:
検査ソケットまで行き届くリレーマトリックス全体にわたるシステムの整合性を確保。 

検査報告: ストレス前、障害前 (ESD):
データは、統計的評価やプレゼンテーション、および障害後データのほか、全曲線トレースや特定のデータポイントの測定用にエックスポートが可能。 

個別のピンパラメーター:
ユーザーは、個々のピンについて、V/I レベル、準拠範囲、および曲線トレースパラメーターを定義可能。

その他の機能:

• Scimitar™ ソフトウェアプラットフォームを用いて、直感的な設定や操作が可能です。
• 前処理オプションにより、優れた管理を実現するために複合検査およびベクトルパターンを使用して DUT を誘導できます。
• 包括的なエンジニアリングベクターデバッグは、困難なベクトル設定に柔軟性をもたらします。 
• Scimitar の「プラグイン」機能を介して、オシロスコープや電源などの外部デバイスを管理できます。
• Thermo Scientific™ EvaluWave 波形解析パッケージは、波形性能や過去に取得した波形の解析の検証にも使用できます。
• 柔軟なモジュラー設計は、社内基準や業界基準の変更時に、現場でのアップグレードに対応します。