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최신 규정 준수를 포함한 기본 연구, 복잡한 연구 및 고급 애플리케이션을 위한 Thermo Scientific™ Evolution™ One/One Plus UV-Vis 분광광도계 시리즈는 쉽게 배우고 간편하게 사용할 수 있는 Thermo Scientific™ Insight™ Pro 소프트웨어와 함께 신뢰성이 높고 다용도로 활용이 가능한 하드웨어와 다양한 액세서리를 제공합니다.
설명 | Evolution One Plus Security 및 Validator 번들 구성품: - Evolution One Plus UV-Vis 분광계 - INSIGHT Pro Security 소프트웨어 - Insight Pro A4 Ltr 용지 버전 Validator - UV-Vis용 적합성 검증 필터 키트 |
제품라인 | Evolution One Plus |
스펙트럼 대역폭 | 가변: 1.0 nm, 2.0 nm |
유형 | Security 및 Validator 번들 - INTL |
광학 디자인 | AFBG 마이크로셀 최적화; AFBG 광섬유 최적화; AFBG 소재 최적화 |
Unit Size | Each |
베이스라인 평탄도 | ±0.001 A, 200–800 nm, 1.0 nm SBW, 평활화됨 |
설명 | Evolution One UV-Vis 분광광도계 |
검출기 유형 | 이중 실리콘 광다이오드 |
치수(길이 x 폭 x 높이) | 593 x 475 x 266 mm (23.3 x 18.7 x 10.6 in.) |
광원 | 제논 플래시 |
제품라인 | Evolution One |
스펙트럼 대역폭 | 1.0 nm |
유형 | UV-Vis 분광광도계 |
Wavelength Range | 190 ∼ 1100 nm |
드리프트 | <0.0005 A/hr, 500 nm, 1.0 nm SBW, 1시간 예열 |
전기 요구사항 | 100/240 V, 50/60 Hz 자동 선택, 최대 150 W |
램프 수명 | >라이브 신호를 사용하지 않을 경우 5년 이상 |
노이즈 | 0A: ≤0.00015 A 1A: ≤0.00025 A 2A: ≤0.00050 A 260 nm, 1.0 nm SBW, RMS< |
광학 디자인 | 시료 및 기준 큐벳이 있는 더블 빔은 Czerny-Turner 단색화 장치의 위치를 지정합니다. |
약전 규정 준수 검사 | 광도 정확도(60mg/L K2Cr2O7): ±0.010A 미광: 198 nm에서 ≤1%T: KCI; 220 nm에서 ≤0.05%: Nal, Kl 파장 정확도: ±.5 nm 541.9, 546.1nm Hg 방출선, ±0.8 nm 전체 범위 파장 재현성: ≤0.05 nm, 546.1 nm Hg 방출선의 반복 스캐닝 |
광도 정확도 | 1 A: ±0.004 A, 2 A: ±0.008 A, NIST로 추적 가능한 중성 밀도 필터를 사용하여 440 nm에서 측정됨 |
광도 디스플레이 | -0.3 ∼ 4.0 A |
광도 범위 | >3.5 A |
광도 반복성 | 1 A: ±0.0002 A |
스캔 좌표 모드 | 흡광도, % 투과율, % 반사율, Kubelka-Munk, 로그(1/R), 로그(Abs), Abs*계수, 광도 |
스캔 속도 | <1 ∼ 6000 nm/분. (가변적) |
워런티 | 3년 소스 교체 보증 |
와트 | 최대 150 W |
파장 정확도 | ±0.5 nm(541.9, 546.1 nm 수은선), ±0.8 nm(전체 범위 190 ∼ 1100 nm) |
파장 데이터 간격 | 10, 5, 2, 1.0, 0.5, 0.2, 0.1 nm |
파장 반복성 | ≤0.05 nm(546.1 nm 수은선, 10회 측정의 SD) |
중량(영국식 단위) | 32 lb. |
중량(미터법) | 14.5 kg |
Unit Size | Each |
베이스라인 평탄도 | ±0.001 A, 200–800 nm, 1.0 nm SBW, 평활화됨 |
설명 | Evolution One Plus UV-Vis 분광광도계 |
검출기 유형 | 이중 실리콘 광다이오드 |
치수(길이 x 폭 x 높이) | 593 x 475 x 266 mm (23.3 x 18.7 x 10.6 in.) |
광원 | 제논 플래시 |
제품라인 | Evolution One Plus |
스펙트럼 대역폭 | 가변: 1.0 nm, 2.0 nm |
유형 | UV-Vis 분광광도계 |
Wavelength Range | 190 ∼ 1100 nm |
드리프트 | <0.0005 A/hr, 500 nm, 1.0 nm SBW, 1시간 예열 |
전기 요구사항 | 100/240 V, 50/60 Hz 자동 선택, 최대 150 W |
램프 수명 | >라이브 신호를 사용하지 않을 경우 5년 이상 |
노이즈 | 0A: ≤0.00015 A 1A: ≤0.00025 A 2A: ≤0.00050 A 260 nm, 1.0 nm SBW, RMS |
광학 디자인 | AFBG 마이크로셀 최적화; AFBG 광섬유 최적화; AFBG 소재 최적화 |
약전 규정 준수 검사 | 광도 정확도(60mg/L K2Cr2O7): ±0.010A 미광: 198 nm에서 ≤1%T: KCI; 220 nm에서 ≤0.05%: Nal, Kl 파장 정확도: ±.5 nm 541.9, 546.1nm Hg 방출선, ±0.8 nm 전체 범위 파장 재현성: ≤0.05 nm, 546.1 nm Hg 방출선의 반복 스캐닝 |
광도 정확도 | 1 A: ±0.004 A, 2 A: ±0.008 A, NIST로 추적 가능한 중성 밀도 필터를 사용하여 440 nm에서 측정됨 |
광도 디스플레이 | -0.3 ∼ 4.0 A |
광도 범위 | >3.5 A |
광도 반복성 | 1 A: ±0.0002 A |
스캔 좌표 모드 | 흡광도, % 투과율, % 반사율, Kubelka-Munk, 로그(1/R), 로그(Abs), Abs*계수, 광도 |
스캔 속도 | <1 ∼ 6000 nm/분. (가변적) |
워런티 | 3년 소스 교체 보증 |
와트 | 최대 150 W |
파장 정확도 | ±0.5 nm(541.9, 546.1 nm 수은선), ±0.8 nm(전체 범위 190 ∼ 1100 nm) |
파장 데이터 간격 | 10, 5, 2, 1.0, 0.5, 0.2, 0.1 nm |
파장 반복성 | ≤0.05 nm(546.1 nm 수은선, 10회 측정의 SD) |
중량(영국식 단위) | 32 lb. |
중량(미터법) | 14.5 kg |
Unit Size | Each |
설명 | Evolution One Security 및 Validator 번들 구성품: - Evolution One UV-Vis 분광계 - INSIGHT Pro Security 소프트웨어 - Insight Pro US Ltr 용지 버전 검증기 - UV-Vis용 적합성 검증 필터 키트 |
제품라인 | Evolution One |
스펙트럼 대역폭 | 1.0 nm |
유형 | Security 및 Validator 번들 - 미국 |
Unit Size | Each |
Evolution One Security 및 Validator 번들 구성품:
- Evolution One UV-Vis 분광계
- INSIGHT Pro Security 소프트웨어
- Insight Pro A4 용지 버전 Validator
- UV-Vis용 적합성 검증 필터 키트
설명 | Evolution One Security 및 Validator 번들 구성품: |
제품라인 | Evolution One |
스펙트럼 대역폭 | 1.0 nm |
유형 | Security 및 Validator 번들 - 미국 |
Unit Size | Each |
설명 | Evolution One Plus USP/EP 표준 제약 번들 – 미국 |
제품라인 | Evolution One Plus |
스펙트럼 대역폭 | 1.0 nm |
유형 | USP/EP 표준 제약 번들 - 미국 |
Unit Size | Each |
설명 | Evolution One USP/EP 표준 제약 번들 구성품: - Evolution One UV-Vis 분광계 - INSIGHT Pro Security 소프트웨어 - A4 용지 버전의 Validator 문서 - USP 및 EP UV 표준 세트 - USP 및 EP Visible 표준 세트 |
제품라인 | Evolution One |
스펙트럼 대역폭 | 1.0 nm |
유형 | USP/EP 표준 제약 번들 – INTL |
Unit Size | Each |
설명 | Evolution One Plus Security 및 Validator 번들 구성품: - Evolution One Plus UV-Vis 분광계 - INSIGHT Pro Security 소프트웨어 - Insight Pro US Ltr 용지 버전 Validator - UV-Vis용 적합성 검증 필터 키트 |
제품라인 | Evolution One Plus |
스펙트럼 대역폭 | 가변: 1.0 nm, 2.0 nm |
유형 | Security 및 Validator 번들 - 미국 |
광학 디자인 | AFBG 마이크로셀 최적화; AFBG 광섬유 최적화; AFBG 소재 최적화 |
Unit Size | Each |
설명 | Evolution One Plus USP/EP 표준 제약 번들 구성품: - Evolution One Plus UV-Vis 분광계 - INSIGHT Pro Security 소프트웨어 - 미국 Ltr 용지 버전의 Validator 문서 - USP 및 EP UV 표준 세트 - USP 및 EP Visible 표준 세트 |
제품라인 | Evolution One Plus |
스펙트럼 대역폭 | 가변: 1.0 nm, 2.0 nm |
유형 | USP/EP 표준 제약 번들 - 미국 |
광학 디자인 | AFBG 마이크로셀 최적화; AFBG 광섬유 최적화; AFBG 소재 최적화 |
Unit Size | Each |
설명 | Evolution One Plus USP/EP 표준 제약 번들 구성품: - Evolution One Plus UV-Vis 분광계 - INSIGHT Pro Security 소프트웨어 - A4 Ltr 용지 버전의 Validator 문서 - USP 및 EP UV 표준 세트 - USP 및 EP Visible 표준 세트 |
제품라인 | Evolution One Plus |
스펙트럼 대역폭 | 가변: 1.0 nm, 2.0 nm |
유형 | USP/EP 표준 제약 번들 – INTL |
광학 디자인 | AFBG 마이크로셀 최적화; AFBG 광섬유 최적화; AFBG 소재 최적화 |
Unit Size | Each |
카탈로그 번호 | 사양 | 제품 사이즈 | 설명 | 스펙트럼 대역폭 | 제품 정가(KRW) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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840-370800 | Each | Evolution One Plus Security 및 Validator 번들 구성품: - Evolution One Plus UV-Vis 분광계 - INSIGHT Pro Security 소프트웨어 - Insight Pro A4 Ltr 용지 버전 Validator - UV-Vis용 적합성 검증 필터 키트 | 가변: 1.0 nm, 2.0 nm | 견적 요청하기 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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840-341400 | Each | Evolution One UV-Vis 분광광도계 | 1.0 nm | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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840-341500 | Each | Evolution One Plus UV-Vis 분광광도계 | 가변: 1.0 nm, 2.0 nm | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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840-370100 | Each | Evolution One Security 및 Validator 번들 구성품: - Evolution One UV-Vis 분광계 - INSIGHT Pro Security 소프트웨어 - Insight Pro US Ltr 용지 버전 검증기 - UV-Vis용 적합성 검증 필터 키트 | 1.0 nm | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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840-370500 | Each | Evolution One Security 및 Validator 번들 구성품: | 1.0 nm | 견적 요청하기 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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840-370200 | Each | Evolution One Plus USP/EP 표준 제약 번들 – 미국 | 1.0 nm | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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840-370600 | Each | Evolution One USP/EP 표준 제약 번들 구성품: - Evolution One UV-Vis 분광계 - INSIGHT Pro Security 소프트웨어 - A4 용지 버전의 Validator 문서 - USP 및 EP UV 표준 세트 - USP 및 EP Visible 표준 세트 | 1.0 nm | 견적 요청하기 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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840-370400 | Each | Evolution One Plus Security 및 Validator 번들 구성품: - Evolution One Plus UV-Vis 분광계 - INSIGHT Pro Security 소프트웨어 - Insight Pro US Ltr 용지 버전 Validator - UV-Vis용 적합성 검증 필터 키트 | 가변: 1.0 nm, 2.0 nm | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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840-370300 | Each | Evolution One Plus USP/EP 표준 제약 번들 구성품: - Evolution One Plus UV-Vis 분광계 - INSIGHT Pro Security 소프트웨어 - 미국 Ltr 용지 버전의 Validator 문서 - USP 및 EP UV 표준 세트 - USP 및 EP Visible 표준 세트 | 가변: 1.0 nm, 2.0 nm | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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840-370700 | Each | Evolution One Plus USP/EP 표준 제약 번들 구성품: - Evolution One Plus UV-Vis 분광계 - INSIGHT Pro Security 소프트웨어 - A4 Ltr 용지 버전의 Validator 문서 - USP 및 EP UV 표준 세트 - USP 및 EP Visible 표준 세트 | 가변: 1.0 nm, 2.0 nm | 견적 요청하기 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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기본 연구에서 고급 연구까지 이 기기 시리즈는 복잡성은 가중되지 않으면서 활용성과 성능을 모두 높여 주는 실제적인 혁신을 제공합니다. 간단 명료한 소프트웨어, 첨단 기능 및 다양한 액세서리 선택 옵션을 통해 One/One Plus UV-Vis 분광광도계는 사용자가 원하는 방식으로 실험을 수행하여 필요한 결과를 제공합니다.
최적화된 엔지니어링으로 최상의 성능 제공:규정/품질 관리 환경:
규정 또는 품질 관리 환경에서 EvolutionOne/One Plus UV-Vis 분광광도계를 사용할 수 있도록 구현 시간을 줄이고 시스템 성능을 보장하는 다양한 규정 준수 제품 및 서비스를 제공합니다.